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 LCM行业检测试验设备
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 LED行业检测试验设备
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 OLED行业检测试验设备
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 PCB行业试验设备
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 半导体行业试验设备
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 无铅制程试验设备
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 手机行业测试设备
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 汽车行业测试设备
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 稀土行业试验设备
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 太阳能行业试验设备
　

850 X荧光光谱仪

多功能聚于一体的X荧光光谱仪

探测器采用先进的电制冷方式，无需氮制冷，增加安全性

可以同时检测RoHS有害元素和镀层厚度，一机多用

多种准直器和滤光机制可供选择
　
SPEC：

主要应用范围： ROHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度（膜厚）测量
镀液分析、黄金等贵金属鉴定
 探测器： 硅锂半导体探测器
X射线管： 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选
滤光器： 一次滤光
 样品观察： CCD高精度彩色摄像头
准直器： Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm，多种准直器可选
对焦系统： 激光对焦
 测量方向： 从上向下
样品台： 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台，程控样品台，固定样品台)
可测元素： K到U
 测试时间： 镀层厚度：10-100s
元素含量：60-300s
 元素含量分析指标：分析范围：1PPM-99.99%
准确度：5%
精确度：0.1%
检出限：1PPM
 镀层厚度的检测指标：准确度：第一层5%，第二层10%
精确度：0.1%
检出限：0.01μm
测试软件： 基本参数法
 定性功能： 自动标示存在元素
定量功能： 出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
报告结果： 自动生成
 数据处理： MS-EXCEL

　
版权所有：宏联（上海）科技有限公司