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800 X荧光光谱仪

多功能聚于一体的X荧光光谱仪

探测器采用先进的电制冷方式,无需氮制冷,增加安全性

可以同时检测RoHS有害元素和镀层厚度,一机多用

多种准直器和滤光机制可供选择

 

SPEC:


主要应用范围: ROHS有害元素检测 材料分析和镀层厚度(膜厚)测量
镀液分析、黄金等贵金属鉴定 X射线管: 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配
探测器: 硅锂半导体探测器 滤光器: 一次滤光
准直器: Ф8mm、Ф3mm、Ф2mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm, 多种准直器可选
样品观察: CCD高精度彩色摄像头 对焦系统: 利用旋钮视觉对角
测量方向: 从下向上 样品台: 固定测量台,XY可移动样品台
可测元素: K到U 测试时间: 镀层厚度:10-100s
元素含量:60-300s 元素含量分析指标:分析范围:1PPM-99.99%
准确度:5% 精确度:0.1%
检出限:1PPM 镀层厚度的检测指标:准确度:第一层5%,第二层10%
精确度:0.1% 检出限:0.01μm
测试软件: 基本参数法 定性功能: 自动标示存在元素
定量功能: 出厂前完成标定曲线,客户直接测试,无需标样
报告结果: 自动生成 数据处理: MS-EXCEL

 
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