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650 X荧光光谱仪

性价比绝佳的X荧光测厚仪

完美的检测性能指标

XYZ三维移动样品台,镭射对焦,
操作简单

人性化软件蚧面设计,易学易懂, 更方便人员操作

 

SPEC:


主要应用范围: 材料分析和镀层厚度(膜厚)测量 镀液分析、黄金等贵金属鉴定
X射线管: 50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配 75W(4-50KV 0 -1.5mA)可选
探测器: 正比计数器 滤光器: 一次滤光
准直器: Ф3mm、Ф1mm、Ф0.5mm、Ф0.2mm、Ф0.1mm,多种准直器可选
样品观察: CCD高精度彩色摄像头 对焦系统: 激光对焦
测量方向: 从上向下 可测元素: K到U
样品台: 多种样品台可供选择(XYZ可移动样品台,程控样品台,固定样品台)
测试时间: 镀层厚度:10-100s 元素含量:60-300s
元素含量分析指标:分析范围:100PPM-99.99% 准确度:5%
精确度:0.1% 检出限:100PPM
镀层厚度的检测指标:准确度:第一层5%,第二层10% 精确度:0.1%
检出限:0.01μm 测试软件: 基本参数法
定量功能: 出厂前完成标定曲线,客户直接测试,无需标样
定性功能: 自动标示存在元素
报告结果: 自动生成 数据处理: MS-EXCEL

 
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