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 LCM行业检测试验设备
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 LED行业检测试验设备
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 OLED行业检测试验设备
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 PCB行业试验设备
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 半导体行业试验设备
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 手机行业测试设备
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 汽车行业测试设备
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 稀土行业试验设备
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 太阳能行业用试验设备
　

OLED Cell Aging
　
　
一裂片后的OLED Cell, 在还沒Bond Driver IC之前, 将所有正极短路, 所有负极亦短路(以PM型为例), 而后在该二端点上加上正及负的电压做测试

该交流测试电压的大小, 頻率, 及週波数皆为Programmable(可在主控PC上設定), 在一次的交流测试后,紧接着为量测段, 使用者先设定反偏电压, HA570会对每一片面板量测其反偏逆电流並记录, 解析精度至10nA.
无论順向或逆向, HA570均提供限流保护, 可使某些先期不稳定的产品不至于断电而有可能在持续的交流测试中复元.
OLED Cell是置于治具—电木Tray盘上, 一个Tray可置放30pc Cells, 一炉共可容納 : 24 Tray x 30 Cell = 720 Cell/炉.
　
Aging Process
Item Parameter Remark
Total cycle
 Programmable 1~100
 　
Tt 1~250 min., 1 min. step
Fwd Voltage
Tm 60 sec. Measurement cycle time
Vft 0~+20V, 0.1V step
 Set for each cycle/each tray
Vrt 0~-20V, 0.1V step Set for each cycle/each tray
Vrm 0~-20V, 0.1V step Reverse voltage of Tm, Set for each cycle
f 1~100Hz, 1 Hz step 1/T, Frequency of Tt
Duty cycle 5%~100%, 1% step Tf/T, rising time/falling time < 10uS
If 200mA max. Output current
　
Measurement
Item Parameter Remark
IF 0.1mA~200mA, 0.1mA step
 Fwd current
Ir Accuracy：
1. 10nA~1uA：10nA
2. 1uA~100uA：5% 		Static-state Leakage Current
　
Current Limit
Item Parameter Remark
If current limit
 200mA Set for each cell
IR current limit 200mA Set for each cell

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